用ICP检测PVD法制造的亚微米级银粉中铅含量的方法_有色金属行业知识产权公共服务平台

用ICP检测PVD法制造的亚微米级银粉中铅含量的方法

浏览量：194

专利号：

CN201110167692.5

专利权人性质：

申请/专利权人：

宁波广博纳米新材料股份有限公司

专利类型：

发明申请

技术领域：

有色金属

申请日：

2011-06-21

法律状态：

授权

技术成熟度：

专利详情：

CN102346149A

技术应用前景：

专利摘要：

本发明公开一种用ICP检测PVD法制造的亚微米级银粉中铅含量的方法，步骤包括：制备亚微米级银粉，将标准纯银与银粉样品皆按照：每1g银粉加入10~30mL硝酸，混合、加热使银完全溶解，将溶液冷却，分别定容，绘制银溶液中不同铅谱线下的标准曲线：取浓度为0.00，10.00μg/mL的铅标准溶液，于电感耦合等离子体光谱仪设定的工作条件下测定铅的谱线强度，以铅浓度为横坐标，谱线强度为纵坐标，绘制标准曲线，选出最佳谱线，测定粉溶液中谱线强度，及对应铅含量，计算银粉中铅的含量。本发明具有谱线寻找容易、检测成本低，更利于工厂实际检测的优点。